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探讨工艺离子污染测试(PICT)标准圆桌会议概要
标准委员会发布了4项新测试标准中的第一项标准之后,I-Connect007于2020年4月17日召开圆桌会议,特邀几位行业专家共同探讨最近由IEC发布的工艺离子污染测试(PICT)标准。与会的专家有I ...查看更多
Kunal Shah博士的技术论文荣获多个大奖
近日,Nolan Johnson采访了LiloTree公司首席执行官Kunal Shah博士。Kunal Shah博士介绍了他的一篇技术论文,该论文获得了国内论文类的最高荣誉,并获得2020年IPC ...查看更多
元器件小型化及贴装高密度化推动AOI的创新与协作
工业4.0简述 大数据是工业4.0的基础,因此先进的检测系统必须从简单的 “合格/不合格”判定工具发展为高度直观、动态的决策系统,尤其突出的是对可靠、可追溯数据的需求。人工智 ...查看更多
Bob Neves访谈:汽车与5G用电路板的导通孔可靠性和稳健性
在IPC APEX展会期间我很高兴得采访了我的老朋友Bob Neves先生。Bob在微孔及通孔测试技术上有一些令人兴奋的新信息。 Happy Holden:Bob,让我们开始讨论这个大新 ...查看更多
减少暴露的焊盘内导通孔BTC中的空洞方法
行业中用于减少空洞的策略取得了不同程度的成功,其中包括管理回流焊曲线参数、焊膏沉积量和焊膏类型、模板上不同形状的开孔切割、有或无阻焊层网的散热焊盘形状、真空辅助的回流焊、PCB载板扫描、使用预 ...查看更多